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IEC 61123 Ed. 2.0 b:2019 Reliability testing - Compliance test plans for success ratio, 2019
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- INTRODUCTION
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms, definitions, abbreviated terms and symbols [Go to Page]
- 3.1 Terms and definitions
- 3.2 Abbreviated terms and symbols [Go to Page]
- 3.2.1 Abbreviated terms
- 3.2.2 Symbols
- 4 General requirements and area of application [Go to Page]
- 4.1 Reliability requirement
- 4.2 Repair and replacement
- 4.3 Types of test plans [Go to Page]
- 4.3.1 General
- 4.3.2 Features of the test plan types
- 4.4 General test procedure
- 4.5 General decision criteria
- 5 Truncated sequential probability ratio test plans (SPRT) [Go to Page]
- 5.1 Characteristics
- 5.2 Decision criteria
- 5.3 Operating characteristic curve (OC)
- 5.4 Expected number of trials to decision (ENT)
- 6 Fixed trial/failure terminated test plans (FTFT) [Go to Page]
- 6.1 Characteristics
- 6.2 Decision criteria
- 7 Design of fixed trial/failure terminated test plans [Go to Page]
- 7.1 Characteristics
- 7.2 Approach
- 7.3 Common case
- 7.4 Other cases
- 7.5 Example of application
- 7.6 Procedure to determine D and c or n and c [Go to Page]
- 7.6.1 Figure and table readings
- 7.6.2 Use of figures and tables
- 7.7 Decision criteria
- Annex A (informative)Additional information on sequential test plans [Go to Page]
- A.1 Example
- A.2 Extension of the test set (through interpolation and extrapolation) [Go to Page]
- A.2.1 General
- A.2.2 Extrapolation for p0 < 0,001
- A.2.3 Interpolation
- Annex B (informative)Design of fixed trial/failure terminated test plans − Examples [Go to Page]
- B.1 Use of figures and tables
- B.2 Case where number of events, n, is not known, but is predictable
- Annex C (informative)Design of fixed trial/failure terminated test plans –Mathematical procedures and formulas [Go to Page]
- C.1 General
- C.2 Symbols
- C.3 Computation [Go to Page]
- C.3.1 Determination of D versus n
- C.3.2 Determination of n and c versus p0, D, α, β
- C.3.3 Test without failures – Determination of n and D versus p0, α, β
- C.3.4 Determination of OC curves
- C.3.5 Determination of inverse OC curves
- C.4 Accuracy
- C.5 Tables of cumulative normal distribution and its Inverse
- Annex D (normative)Truncated sequential test plans
- Annex E (informative)Design of fixed trial/failure terminated test plans – Figures and tables to determine D and c or n and c
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Expected and maximal number of trials for SPRT and FTFT with the same risks
- Figure 2 – SPRT diagram
- Figure 3 – OC curve
- Figure 4 – SPRT – Curve of expected number of trials to decision (ENT)
- Figure 5 – Principal layout of Tables E.1 to E.3
- Figure A.1 – Example of a truncated sequential test
- Figure E.1 – Discrimination ratio, D, versus number of events, n for p0 = 0,05
- Figure E.2 – Discrimination ratio, D, versus number of events, n for p0 = 0,10
- Figure E.3 – Discrimination ratio, D, versus number of events, n for p0 = 0,15
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Overview – Maximal number of trials and expected number of trials at p0 for SPRT and FTFT
- Table 2 – Range of the test parameters
- Table 3 – OC curve
- Table 4 – ENT (ne) versus true failure ratio (p)
- Table 5 – Fixed trial/failure terminated test plans
- Table A.1 – Example for interpolation by α and β
- Table C.1 – Cumulative normal distribution for fixed uγ values
- Table C.2 – Inverse cumulative normal distribution for fixed 1 − γ values
- Table D.1 – Truncated sequential test plans
- Table E.1 – Acceptable number of failures, c, versus number of events, n for p0 = 0,05 (1 of 2)
- Table E.2 – Acceptable number of failures, c, versus number of events, n for p0 = 0,10 (1 of 2)
- Table E.3 – Acceptable number of failures, c, versus number of events, n for p0 = 0,15 (1 of 2)
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- INTRODUCTION
- 1 Domaine d'application
- 2 Références normatives
- 3 Termes, définitions, termes abrégés et symboles [Go to Page]
- 3.1 Termes et définitions
- 3.2 Termes abrégés et symboles [Go to Page]
- 3.2.1 Termes abrégés
- 3.2.2 Symboles
- 4 Exigences générales et domaine d'application [Go to Page]
- 4.1 Exigence de fiabilité
- 4.2 Réparation et remplacement
- 4.3 Types de plans d'essai [Go to Page]
- 4.3.1 Généralités
- 4.3.2 Caractéristiques des types de plans d'essai
- 4.4 Méthode générale d'essai
- 4.5 Critères généraux de décision
- 5 Plans d'essai de rapport de probabilité progressif tronqué (SPRT) [Go to Page]
- 5.1 Caractéristiques
- 5.2 Critères de décision
- 5.3 Courbe d'efficacité (OC)
- 5.4 Nombre prévu d'épreuves pour décision (ENT)
- 6 Plans d'essai à nombre fixé d'épreuves et de défaillances (FTFT) [Go to Page]
- 6.1 Caractéristiques
- 6.2 Critères de décision
- 7 Conception des plans d'essai à nombre fixé d'épreuves et de défaillances [Go to Page]
- 7.1 Caractéristiques
- 7.2 Approche
- 7.3 Cas typique
- 7.4 Autres cas
- 7.5 Exemple d'application
- 7.6 Procédure pour déterminer D et c ou n et c [Go to Page]
- 7.6.1 Lecture des figures et des tableaux
- 7.6.2 Utilisation des figures et des tableaux
- 7.7 Critères de décision
- Annexe A (informative)Informations supplémentaires sur les plans d'essai progressifs [Go to Page]
- A.1 Exemple
- A.2 Extension de la série d'essais (par interpolation et extrapolation) [Go to Page]
- A.2.1 Généralités
- A.2.2 Extrapolation pour p0 < 0,001
- A.2.3 Interpolation
- Annexe B (informative)Plans d'essai à nombre fixé d'épreuves et de défaillances – Exemples [Go to Page]
- B.1 Utilisation des figures et des tableaux
- B.2 Nombre d'événements n, où n est inconnu mais prévisible
- Annexe C (informative)Plans d'essai à nombre fixé d'épreuves et de défaillances –Procédures mathématiques et formules [Go to Page]
- C.1 Généralités
- C.2 Symboles
- C.3 Calculs [Go to Page]
- C.3.1 Détermination de D en fonction de n
- C.3.2 Détermination de n et de c en fonction de p0, D, α, β
- C.3.3 Essai sans défaillances – Détermination de n et de D en fonction de p0, α, β
- C.3.4 Détermination des courbes d'efficacité
- C.3.5 Détermination des courbes d'efficacité inverses
- C.4 Précision
- C.5 Tableaux de la distribution normale cumulée et de son inverse
- Annexe D (normative)Plans d'essai progressifs tronqués
- Annexe E (informative)Plans d'essai à nombre fixé d'épreuves et de défaillances –Figures et tableaux pour déterminer D et c ou n et c
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Nombre prévu et nombre maximal d'épreuves pour un SPRT etun FTFT avec les mêmes risques
- Figure 2 – Diagramme SPRT
- Figure 3 – Courbe d'efficacité
- Figure 4 – SPRT – Courbe du nombre prévu d'épreuves pour décision (ENT)
- Figure 5 – Présentation principale des Tableaux E.1 à E.3
- Figure A.1 – Exemple d'essai progressif tronqué
- Figure E.1 – Rapport de discrimination, D,en fonction du nombre d'événements, n pour p0 = 0,05
- Figure E.2 – Rapport de discrimination, D,en fonction du nombre d'événements, n pour p0 = 0,10
- Figure E.3 – Rapport de discrimination, D,en fonction du nombre d'événements, n pour p0 = 0,15
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Vue d'ensemble – Nombre maximal d'épreuveset nombre prévu d'épreuves à p0 pour le SPRT et le FTFT
- Tableau 2 – Plage des paramètres d'essai
- Tableau 3 – Courbe d'efficacité
- Tableau 4 – ENT (ne) en fonction du rapport vrai de défaillances (p)
- Tableau 5 – Plans d'essai à nombre fixé d'épreuves et de défaillances
- Tableau A.1 – Exemple d'interpolation par α et β
- Tableau C.1 – Distribution normale cumulée pour des valeurs fixées de uγ
- Tableau C.2 – Distribution normale cumulée inverse pour des valeurs fixées de 1 − γ
- Tableau D.1 – Plans d'essai progressifs tronqués
- Tableau E.1 – Nombre acceptable de défaillances, c,en fonction du nombre d'événements, n pour p0 = 0,05 (1 de 2)
- Tableau E.2 – Nombre acceptable de défaillances, c, en fonction du nombre d'événements, n pour p0 = 0,10 (1 de 2)
- Tableau E.3 – Nombre acceptable de défaillances, c, en fonction du nombre d'événements, n pour p0 = 0,15 (1 de 2) [Go to Page]
