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IEC 62326-20 Ed. 1.0 b:2016 Printed boards - Part 20: Printed circuit boards for high-brightness LEDs, 2016
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms, definitions and abbreviations [Go to Page]
- 3.1 Terms and definitions
- 3.2 Abbreviations
- 4 Classification and class of the printed circuit board for high-brightness LEDs
- 5 Design rules and allowance [Go to Page]
- 5.1 Panel and board sizes [Go to Page]
- 5.1.1 Board size
- 5.1.2 Allowance of dimensions
- 5.1.3 Perforation and slit
- 5.1.4 V-cut
- 5.2 Total board thickness
- 5.3 Holes [Go to Page]
- 5.3.1 Insertion holes and vias
- 5.3.2 Datum hole
- 5.3.3 Assembly hole (a through-hole without wall plating)
- 5.4 Conductor [Go to Page]
- 5.4.1 Width of conductor pattern and its allowance
- 5.4.2 Distance between conductors and its allowance
- 5.4.3 Thickness of the insulating layer
- 5.5 Printed contact [Go to Page]
- 5.5.1 Allowance of the distance between the centers of two adjacent printed contacts
- 5.5.2 Allowance of the terminal width of printed contacts
- 5.5.3 Shift of the center of printed contacts on front and back sides of a board
- 5.6 Land pattern [Go to Page]
- 5.6.1 Allowance of the distance between the centers of two lands
- 5.6.2 Allowance of the width of a land
- 5.6.3 Land diameter and its allowance for BGA/CSP
- 5.7 Fiducial mark and mark for component positioning [Go to Page]
- 5.7.1 Typical form and size of the fiducial mark
- 5.7.2 Dimensional allowance of fiducial mark and component positioning mark
- 5.7.3 Position allowance of the component positioning mark
- 5.8 Interlayer connection – Copper plating
- 6 Quality [Go to Page]
- 6.1 Gap between conductor and the wall of a component insertion hole or a via
- 6.2 Positional deviation between conductor layers of a multilayer board
- 6.3 Minimum land width
- 6.4 Surface treatment [Go to Page]
- 6.4.1 Gold plating for printed contact
- 6.4.2 Other surface treatment
- 6.5 Defects of solder resist
- 6.6 Symbol mark [Go to Page]
- 6.6.1 General
- 6.6.2 Conductor surface
- 6.6.3 Between conductors
- 6.6.4 Defects within insulating layers
- 6.6.5 Routing and drilling
- 6.6.6 Conductor pattern
- 6.7 Land
- 6.8 Land of a land pattern
- 6.9 Defects in a land for BGA/CSP mounting
- 6.10 Printed contact
- 7 Performance and test methods [Go to Page]
- 7.1 Resistance of conductors
- 7.2 Current proof of conductor and plated through hole
- 7.3 Observation of component mountings and vias [Go to Page]
- 7.3.1 Observation with standard conditions
- 7.3.2 Observation after thermal shock test
- 8 Marking, packaging and storage [Go to Page]
- 8.1 Marking on a product
- 8.2 Marking on the package
- 8.3 Packaging and storage [Go to Page]
- 8.3.1 Packaging
- 8.3.2 Storage
- Annex A (informative) Classification and class of the PCB for high-brightness LEDs
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Example of a classification and its application
- Figure 2 – Board arrangement in a panel
- Figure 3 – Distances from the datum point to perforation and slit
- Figure 4 – Distance from the datum point to the V-cut
- Figure 5 – Allowance of position off-set of V-cuts on front and back surfaces
- Figure 6 – PWB board with symbol mark, solder resist, copper foil and plating
- Figure 7 – Positions of component insertion holes
- Figure 8 – Distance between the wall of a hole and the board edge
- Figure 9 – Wall of a hole and the minimum designed spacing to the inner conductor
- Figure 10 – Width of finished conductor
- Figure 11 – Distance between conductor and board edge
- Figure 12 – Thickness of the insulating layer
- Figure 13 – Distance between centers of terminals of printed contacts
- Figure 14 – Terminal width of a printed contact
- Figure 15 – Shift of the center of printed contacts on front and back sides of a board
- Figure 16 – Land pattern
- Figure 17 – Land width of a land pattern
- Figure 18 – Land diameter of BGA/CSP formed of a conductor only
- Figure 19 – Land diameter (d) of BGA/CSP formed at the opening of solder resist
- Figure 20 – Examples of fiducial mark and component positioning mark
- Figure 21 – Minimum land width
- Figure 22 – Exposure of conductor
- Figure 23 – Minimum land with caused by the shift of solder resist
- Figure 24 – Overlap, smear and shift of solder resist
- Figure 25 – Examples of smear or blur
- Figure 26 – Example of measling
- Figure 27 – Examples of crazing
- Figure 28 – Conductor nicks
- Figure 29 – Conductor residue
- Figure 30 – Land
- Figure 31 – Defects in a land of a land pattern
- Figure 32 – Defects in BGA/CSP mounting lands
- Figure 33 – Areas to be checked for defects of a printed contact
- Figure 34 – Defects in a printed contact
- Figure 35 – Relations between resistance and width, thickness and temperature of a conductor
- Figure 36 – Relationship between current, conductor width and thickness and temperature rise
- Figure 37 – Defect on a plating of a component hole
- Figure 38 – Resin smear
- Figure 39 – Corner crack
- Figure 40 – Barrel crack
- Figure 41 – Foil crack
- Figure A.1 – Relation between thermal conductive parameter and heat transfer coefficient parameter
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Application and classification
- Table 2 – Panel dimensions
- Table 3 – Allowance of dimensions
- Table 4 – Allowance of the distances from the datum point to perforation and slit
- Table 5 – Allowance of the distance from the datum point to the center of the V-cut
- Table 6 – Total thickness and its allowance
- Table 7 – Allowance of holes for component insertion
- Table 8 – Position allowance of component insertion holes
- Table 9 – Distance between the wall of a hole and board edge
- Table 10 – Minimum clearance between the wall of a hole and the inner layer conductor
- Table 11 – Allowance of conductor width
- Table 12 – Allowance of the distance between conductors
- Table 13 – Allowance of terminal width of a printed contact
- Table 14 – Allowance of terminal width of a printed contact
- Table 15 – Allowance of the width of a land of a land pattern
- Table 16 – Land diameter and its allowance for BGA/CSP
- Table 17 – Allowance of the land diameter (d) of BGA/CS Pformed at the opening of solder resist
- Table 18 – Shapes and sizes of typical fiducial marks and component positioning marks
- Table 19 – Minimum thickness of copper plating
- Table 20 – Minimum thickness of copper plating
- Table 21 – Minimum land width
- Table 22 – Overlap, smear and shift of solder resist over a fool print
- Table 23 – Allowance of the area of a defect, remaining width and protrusion of a land
- Table 24 – Defect of a land of a land pattern
- Table 25 – Defects in BGA/CSP mounting lands
- Table 26 – Defects in a printed contact
- Table 27 – Specification and test methods of resistance of conductors
- Table 28 – Specification and test methods of current proof
- Table 29 – Allowance in horizontal sectioning
- Table A.1 – Relation between thermal conductive parameter and heat transfer coefficient parameter
- Table A.2 – Related test methods
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d'application
- 2 Références normatives
- 3 Termes, définitions et abréviations [Go to Page]
- 3.1 Termes et définitions
- 3.2 Abréviations
- 4 Classification et classe des cartes de circuits imprimés destinées aux LED à haute luminosité
- 5 Règles de conception et tolérance [Go to Page]
- 5.1 Dimensions du panneau et des cartes [Go to Page]
- 5.1.1 Dimensions de la carte
- 5.1.2 Tolérance des dimensions
- 5.1.3 Perforations et fentes
- 5.1.4 Coupe en V
- 5.2 Epaisseur totale de la carte
- 5.3 Trous [Go to Page]
- 5.3.1 Trous d'insertion et trous de liaison
- 5.3.2 Trou de référence
- 5.3.3 Trou d'assemblage (trou traversant sans parois métallisées)
- 5.4 Conducteur [Go to Page]
- 5.4.1 Largeur de l'impression conductrice et tolérance
- 5.4.2 Distance entre les conducteurs et tolérance
- 5.4.3 Epaisseur de la couche isolante
- 5.5 Contact imprimé [Go to Page]
- 5.5.1 Tolérance de distance entre les centres de deux contacts imprimés adjacents
- 5.5.2 Tolérance de largeur des bornes des contacts imprimés
- 5.5.3 Décalage du centre des contacts imprimés sur les plans avant et arrière d'une carte
- 5.6 Zone de report [Go to Page]
- 5.6.1 Tolérance de distance entre les centres de deux pastilles
- 5.6.2 Tolérance de largeur des pastilles
- 5.6.3 Diamètre des pastilles et tolérance pour BGA/CSP
- 5.7 Repère conventionnel et repère de positionnement des composants [Go to Page]
- 5.7.1 Forme et dimensions types du repère conventionnel
- 5.7.2 Tolérance de dimension du repère conventionnel et du repère de positionnement des composants
- 5.7.3 Tolérance de position du repère de positionnement des composants
- 5.8 Connexion entre couches – Métallisation en cuivre
- 6 Qualité [Go to Page]
- 6.1 Espacement entre le conducteur et la paroi d'un trou d'insertion de composants ou d'un trou de liaison
- 6.2 Ecart de position entre les couches conductrices d'une carte multicouche
- 6.3 Largeur de pastille minimale
- 6.4 Traitements de surface [Go to Page]
- 6.4.1 Métallisation en or d'un contact imprimé
- 6.4.2 Autres traitements de surface
- 6.5 Défauts d'épargne de brasure
- 6.6 Marque de symbole [Go to Page]
- 6.6.1 Généralités
- 6.6.2 Surface du conducteur
- 6.6.3 Entre les conducteurs
- 6.6.4 Défauts dans les couches isolantes
- 6.6.5 Routage et perçage
- 6.6.6 Impression conductrice
- 6.7 Pastille
- 6.8 Pastille d'une zone de report
- 6.9 Défauts dans une pastille pour un montage BGA/CSP
- 6.10 Contact imprimé
- 7 Performances et méthodes d'essai [Go to Page]
- 7.1 Résistance des conducteurs
- 7.2 Epreuve de courant d'un conducteur et d'un trou traversant métallisé
- 7.3 Observation du montage des composants et des trous de liaison [Go to Page]
- 7.3.1 Observation dans des conditions normalisées
- 7.3.2 Observation après l'essai de choc thermique
- 8 Marquage, emballage et stockage [Go to Page]
- 8.1 Marquage d'un produit
- 8.2 Marquage d'un emballage
- 8.3 Emballage et stockage [Go to Page]
- 8.3.1 Emballage
- 8.3.2 Stockage
- Annexe A (informative) Classification et classe des cartes PCB pour LED à haute luminosité
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Exemple de classification et de son application
- Figure 2 – Disposition des cartes sur un panneau
- Figure 3 – Distance entre le point de référence et les perforations et les fentes
- Figure 4 – Distance entre le point de référence et la coupe en V
- Figure 5 – Tolérance d'écart de position des coupes en V pour les plans avant et arrière
- Figure 6 – Carte de circuit imprimé avec marque de symbole, épargne de brasure, feuille de cuivre et métallisation
- Figure 7 – Positions d'un trou d'insertion de composants
- Figure 8 – Distance entre la paroi d'un trou et l'extrémité de la carte
- Figure 9 – Paroi d'un trou et espacement de conception minimal par rapport au conducteur intérieur
- Figure 10 – Largeur du conducteur fini
- Figure 11 – Distance entre le conducteur et l'extrémité de la carte
- Figure 12 – Epaisseur de la couche isolante
- Figure 13 – Distance entre les centres des bornes des contacts imprimés
- Figure 14 – Largeurs des bornes des contacts imprimés
- Figure 15 – Décalage du centre des contacts imprimés sur les plans avant et arrière d'une carte
- Figure 16 – Zone de report
- Figure 17 – Largeur des pastilles d'une zone de report
- Figure 18 – Diamètre des pastilles pour les BGA/CSP formés exclusivement d'un conducteur
- Figure 19 – Diamètre des pastilles (d) pour les BGA/CSP formés à l'ouverture de l'épargne de brasure
- Figure 20 – Exemples de repère conventionnel et de repère de positionnement des composants
- Figure 21 – Largeur de pastille minimale
- Figure 22 – Exposition du conducteur
- Figure 23 – Largeur de pastille minimale provoquée par le décalage de l'épargne de brasure
- Figure 24 – Chevauchement, coulure et décalage de l'épargne de brasure
- Figure 25 – Exemples de coulure ou d'élément flou
- Figure 26 – Exemple de blanchiment au croisement des fibres
- Figure 27 – Exemple de délabrement
- Figure 28 – Entaille de conducteur
- Figure 29 – Résidu de conducteur
- Figure 30 – Pastille
- Figure 31 – Défauts dans une pastille d'une zone de report
- Figure 32 – Défauts dans des pastilles pour un montage BGA/CSP
- Figure 33 – Zones d'un contact imprimé qui doivent faire l'objet d'une recherche de défauts
- Figure 34 – Défauts dans un contact imprimé
- Figure 35 – Relations entre la résistance, la largeur, l'épaisseur et la température d'un conducteur
- Figure 36 – Relation entre le courant, la largeur et l'épaisseur du conducteur, ainsi que l'échauffement
- Figure 37 – Défauts sur la métallisation d'un trou de composant
- Figure 38 – Coulée de résine
- Figure 39 – Fissure sur l'angle
- Figure 40 – Fissure sur le fût
- Figure 41 – Fissure sur la feuille
- Figure A.1 – Relation entre le paramètre de conductivité thermique et le paramètre de coefficient de transfert thermique
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Application et classification
- Tableau 2 – Dimensions des panneaux
- Tableau 3 – Tolérance des dimensions
- Tableau 4 – Tolérance de distance entre le point de référence et les perforations et les fentes
- Tableau 5 – Tolérance de distance entre le point de référence et le centre de la coupe en V
- Tableau 6 – Epaisseur totale et tolérance
- Tableau 7 – Tolérance relative aux trous d'insertion de composants
- Tableau 8 – Tolérance de position d'un trou d'insertion de composants
- Tableau 9 – Distance entre la paroi d'un trou et l'extrémité de la carte
- Tableau 10 – Espace libre minimal entre la paroi d'un trou et le conducteur de la couche intérieure
- Tableau 11 – Tolérance de largeur du conducteur
- Tableau 12 – Tolérance de distance entre les conducteurs
- Tableau 13 – Tolérance de distance entre les centres de deux pastilles
- Tableau 14 – Tolérance de distance entre les centres de deux pastilles
- Tableau 15 – Tolérance de largeur des pastilles d'une zone de report
- Tableau 16 – Diamètre des pastilles et tolérance pour les BGA/CSP
- Tableau 17 – Tolérance de diamètre des pastilles (d) pour les BGA/CSP formés à l'ouverture de l'épargne de brasure
- Tableau 18 – Formes et dimensions des repères types conventionnels et de positionnement des composants
- Tableau 19 – Epaisseur minimale de la métallisation en cuivre
- Tableau 20 – Epaisseur minimale de la métallisation en cuivre
- Tableau 21 – Largeur de pastille minimale
- Tableau 22 – Chevauchement, coulure et décalage de l'épargne de brasure sur une simulation d'impression
- Tableau 23 – Tolérance de largeur restante et de saillie d'une pastille dont la zone comporte un défaut
- Tableau 24 – Défauts dans une pastille d'une zone de report
- Tableau 25 – Défauts dans des pastilles pour un montage BGA/CSP
- Tableau 26 – Défauts dans un contact imprimé
- Tableau 27 – Spécification et méthodes d'essai relatives à la résistance des conducteurs
- Tableau 28 – Spécification et méthodes d'essai relatives à l'épreuve de courant
- Tableau 29 – Tolérance relative à la section horizontale
- Tableau A.1 – Relation entre le paramètre de conductivité thermique et le paramètre de coefficient de transfert thermique
- Tableau A.2 – Méthodes d'essai associées [Go to Page]