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IEC 62787 Ed. 1.0 b:2021 Concentrator photovoltaic (CPV) solar cells and cell on carrier (CoC) assemblies - Qualification, 2021
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms and definitions
- 4 Operating environment
- 5 Sampling
- 6 Marking
- 7 Characterization methods for measuring the performance of bare cells and CoCs subjected to qualification tests [Go to Page]
- 7.1 General
- 7.2 Light I-V measurement
- 7.3 Dark I-V measurement [Go to Page]
- 7.3.1 General
- 7.3.2 Procedure
- 7.4 Electroluminescence (EL) mapping
- 7.5 X-ray and Scanning Acoustic Microscope (SAM)
- 7.6 Visual inspection
- 7.7 Thermal resistance measurement
- 8 Pass criteria
- 9 Documentation and reporting
- 10 Modifications and requalification
- 11 Qualification stress tests [Go to Page]
- 11.1 General
- 11.2 ESD damage threshold [Go to Page]
- 11.2.1 General
- 11.2.2 Purpose
- 11.2.3 Procedure
- 11.2.4 Requirements
- 11.3 Front and back metal adhesion [Go to Page]
- 11.3.1 Purpose
- 11.3.2 Procedure
- 11.3.3 Requirements
- 11.4 High-temperature storage [Go to Page]
- 11.4.1 Purpose
- 11.4.2 Procedure
- 11.4.3 Requirements
- 11.5 Thermal cycling [Go to Page]
- 11.5.1 Purpose
- 11.5.2 Procedure
- 11.5.3 Requirements
- 11.6 High temperature with current injection [Go to Page]
- 11.6.1 Purpose
- 11.6.2 Procedure
- 11.6.3 Requirements
- 11.7 Low level light biased damp heat [Go to Page]
- 11.7.1 Purpose
- 11.7.2 Procedure
- 11.7.3 Requirements
- 11.8 Solderability [Go to Page]
- 11.8.1 Purpose
- 11.8.2 Procedure
- 11.8.3 Requirements
- 11.9 Illumination [Go to Page]
- 11.9.1 Purpose
- 11.9.2 Procedure
- 11.9.3 Requirements
- 11.10 Wire/Ribbon bond strength [Go to Page]
- 11.10.1 Purpose
- 11.10.2 Procedure
- 11.10.3 Requirements
- 11.11 Die adhesion [Go to Page]
- 11.11.1 Purpose
- 11.11.2 Procedure
- 11.11.3 Requirements
- 11.12 Connector shear strength [Go to Page]
- 11.12.1 Purpose
- 11.12.2 Procedure
- 11.12.3 Pass/fail criteria
- 11.13 Bypass diode shear strength [Go to Page]
- 11.13.1 Purpose
- 11.13.2 Procedure
- 11.13.3 Requirements
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Schematics and photos of Cells on Carrier and bare cell test assembly
- Figure 2 – Representative samples of CPV systems, where cells and CoCs are deployed
- Figure 3 – Flow chart of qualification tests for bare solar cells
- Figure 4 – Flow chart of qualification tests for CoCs
- Figure 5 – Thermal Cycle Diagram for the CoC test and TCO-1
- Figure 6 – Force diagram in the bond strength test(taken from IEC 60749-22:2002, Annex A, Method B)
- Figure 7 – Minimum bond pull limits (normal to die)(taken from IEC 60749-22:2002, Annex A, Method B)
- Figure 8 – Schematic of the test set up for the die adhesion test
- Figure 9 – Die shear strength criteria (minimum force versus die attach area)(taken from MIL.ST-883-K)
- Figure 10 – Schematics of the position of the pushing tool(taken from IEC 6213712:2007)
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Qualification tests description for bare solar cells
- Table 2 – Qualification tests description for CoCs
- Table 3 – Thermal Cycle Options (TCO) of test 11.5 for CoCs
- Table 4 – Minimum pulling forces, PW (taken from IEC 60749-22:2002, Method B)
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d’application
- 2 Références normatives
- 3 Termes et définitions
- 4 Environnement de fonctionnement
- 5 Echantillonnage
- 6 Marquage
- 7 Méthodes de caractérisation pour la mesure des performances des cellules nues et des CoC soumises aux essais de qualification [Go to Page]
- 7.1 Généralités
- 7.2 Mesure I-V à la lumière
- 7.3 Mesure I-V d’obscurité [Go to Page]
- 7.3.1 Généralités
- 7.3.2 Procédure
- 7.4 Cartographie d’électroluminescence (EL)
- 7.5 Rayons X et microscopie acoustique (SAM)
- 7.6 Examen visuel
- 7.7 Mesure de la résistance thermique
- 8 Critères d’acceptation
- 9 Documentation et consignation
- 10 Modifications et requalification
- 11 Essais de contraintes de qualification [Go to Page]
- 11.1 Généralités
- 11.2 Seuil de dommage aux décharges électrostatiques [Go to Page]
- 11.2.1 Généralités
- 11.2.2 Objet
- 11.2.3 Procédure
- 11.2.4 Exigences
- 11.3 Adhérence du métal avant et arrière [Go to Page]
- 11.3.1 Objet
- 11.3.2 Procédure
- 11.3.3 Exigences
- 11.4 Stockage à haute température [Go to Page]
- 11.4.1 Objet
- 11.4.2 Procédure
- 11.4.3 Exigences
- 11.5 Cyclage thermique [Go to Page]
- 11.5.1 Objet
- 11.5.2 Procédure
- 11.5.3 Exigences
- 11.6 Haute température avec injection de courant [Go to Page]
- 11.6.1 Objet
- 11.6.2 Procédure
- 11.6.3 Exigences
- 11.7 Chaleur humide à faible niveau de lumière polarisée [Go to Page]
- 11.7.1 Objet
- 11.7.2 Procédure
- 11.7.3 Exigences
- 11.8 Brasabilité [Go to Page]
- 11.8.1 Objet
- 11.8.2 Procédure
- 11.8.3 Exigences
- 11.9 Eclairement [Go to Page]
- 11.9.1 Objet
- 11.9.2 Procédure
- 11.9.3 Exigences
- 11.10 Robustesse des contacts soudés à fil/fil méplat [Go to Page]
- 11.10.1 Objet
- 11.10.2 Procédure
- 11.10.3 Exigences
- 11.11 Adhérence de la pastille [Go to Page]
- 11.11.1 Objet
- 11.11.2 Procédure
- 11.11.3 Exigences
- 11.12 Résistance au cisaillement du connecteur [Go to Page]
- 11.12.1 Objet
- 11.12.2 Procédure
- 11.12.3 Critères de réussite/d’échec
- 11.13 Résistance au cisaillement de la diode de dérivation [Go to Page]
- 11.13.1 Objet
- 11.13.2 Procédure
- 11.13.3 Exigences
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Schéma et représentations tridimensionnelles d’une cellule sur support et d’un ensemble d’essai de cellule nue
- Figure 2 – Echantillons représentatifs de systèmes CPV dans lesquels les cellules et les CoC sont déployées
- Figure 3 – Schéma de principe des essais de qualification des cellules solaires nues
- Figure 4 – Schéma de principe des essais de qualification des CoC
- Figure 5 – Graphique de cyclage thermique pour l’essai de la CoC avec TCO-1
- Figure 6 – Diagramme des forces dans le cadre de l’essai de robustesse des contacts soudés (issue de l’IEC 60749-22:2002, Annexe A, Méthode B)
- Figure 7 – Limites minimales de traction des contacts soudés (normalement (perpendiculairement) à la pastille) (issue de l’IEC 60749-22:2002, Annexe A, Méthode B)
- Figure 8 – Schéma du montage d’essai d’adhérence de la pastille
- Figure 9 – Critères de résistance au cisaillement de la pastille (force minimale/surface de fixation de pastille) (issue du document MIL.ST-883-K)
- Figure 10 – Schéma de la position de l’outil de poussée (issue de l’IEC 6213712:2007)
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Description des essais de qualification pour les cellules solaires nues
- Tableau 2 – Description des essais de qualification pour les CoC
- Tableau 3 – Options de cyclage thermique (TCO, Thermal Cycle Option) de l’essai 11.5 pour les CoC
- Tableau 4 – Forces de traction minimales, PW (issu de l’IEC 60749-22:2002, Méthode B) [Go to Page]
